Waveshare IC51-1764-1505-5, Test & Burn-in Socket

Yamaichi IC Test & Burn-in-socketen för QFP176/TQFP176/FQFP176/PQFP176-paketet erbjuder precision och pålitlighet.

Den är utformad för att passa en mängd olika IC:er och säkerställer säkra anslutningar under test- och burn-in-faserna. Dess robusta design förbättrar signalintegriteten och minskar kontaktmotståndet.

Tillverkad med material av hög kvalitet klarar den av hårda testmiljöer och stödjer snabb prototypframtagning. Installationen är enkel och gör det smidigt att integrera den i dina testutrustningar.

Den här uttagets anpassningsförmåga gör det till ett mångsidigt val för ingenjörs- och utvecklingsuppgifter där precision och effektivitet är av största vikt.