Waveshare IC51-1764-1995-6, test- och inbränningsuttag

Upplev förbättrad testeffektivitet med IC51-1764-1995-6, Yamaichi IC Test & Burn-in Socket. Designad för QFP176, TQFP176, FQFP176 och PQFP176 paket, ger denna precisionssockel en pålitlig plattform för att utvärdera avancerade halvledarenheter.

Med en robust clamshell-design säkerställer socketen säker och effektiv kontakt, vilket minskar risken för skador på känsliga stift under testning. Användningen av material av hög kvalitet garanterar hållbarhet och lång livslängd, även under omfattande temperaturväxlingar.

Perfekt för olika tester och inkörningsapplikationer, gör IC51-1764-1995-6 det enkelt att snabbt sätta i och ta bort IC-paket, vilket betydligt förbättrar genomströmningen. Dess överlägsna förmåga att avleda värme säkerställer jämn prestanda under tuffa förhållanden.

Med sitt användarvänliga hantering är den här sockeln designad för att förenkla dina elektroniska testprocesser, precis som en dirigent som leder en orkester för att uppnå en harmonisk symfoni. Pålitlig, exakt och effektiv, den här sockeln är en viktig tillgång i vilken testuppsättning som helst.